Numéro |
J. Phys. Radium
Volume 16, Numéro 3, mars 1955
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Page(s) | 199 - 205 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphysrad:01955001603019901 |
J. Phys. Radium 16, 199-205 (1955)
DOI: 10.1051/jphysrad:01955001603019901
Laboratoire de Luminescence, Faculté des Sciences de Paris
7860K - Thermoluminescence.
7220J - Charge carriers: generation, recombination, lifetime, and trapping.
Key words
electroluminescence -- solid theory
DOI: 10.1051/jphysrad:01955001603019901
Sur la détermination des profondeurs des piège à électrons par thermoluminescence
G. Curie et D. CurieLaboratoire de Luminescence, Faculté des Sciences de Paris
Résumé
L'étude de la thermoluminescence à vitesse de chauffe constante est la méthode la plus fréquemment utilisée pour caractériser la distribution des pièges à électrons dans un corps phosphorescent. Revoyant du point de vue mathématique la formule approchée de Randall et Wilkins employée habituellement, on lui substitue une relation permettant, pour chaque phosphore et chaque vitesse de chauffe, de déduire la profondeur des pièges de la température du maximum d'émission thermoluminescente. On a traduit cette relation sous forme d'une table numérique d'utilisation pratique simple. En Appendice, on examine les diverses méthodes de mesure de la profondeur E et du « paramètre de sortie des pièges » s.
7860K - Thermoluminescence.
7220J - Charge carriers: generation, recombination, lifetime, and trapping.
Key words
electroluminescence -- solid theory