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Article cité :

Polarimetric method of thin film study by variation of the refractive index in the region of incidence (immersion).
Méthode polarimétrique d'étude des couches minces par variation de l'indice du milieu d'incidence (immersion)

F. Suhner

J. Phys. Radium, 11 7 (1950) 366-372

DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107036600

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Citations de cet article :

The Study of the Optical Properties of Conducting Tin Oxide Films and their Interpretation in Terms of a Tentative Band Scheme

Toshihiro Arai
Journal of the Physical Society of Japan 15 (5) 916 (1960)
https://doi.org/10.1143/JPSJ.15.916

Optical and Electrical Properties of Tin Oxide Films

Kozo Ishiguro, Taizo Sasaki, Toshihiro Arai and Isamu Imai
Journal of the Physical Society of Japan 13 (3) 296 (1958)
https://doi.org/10.1143/JPSJ.13.296

Measurement and control of the thickness of thin films

K.M. Greenland
Vacuum 2 (3) 216 (1952)
https://doi.org/10.1016/0042-207X(52)90359-X