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Article cité :

Evaluation of aberrations of immersion objective lenses in relation to electron emission microscopy

M. Bernheim
The European Physical Journal Applied Physics 36 (2) 193 (2006)
https://doi.org/10.1051/epjap:2006121

High-resolution imaging with the stigmatic ion microscope

Mark T. Bernius, Yong-Chien Ling and George H. Morrison
Journal of Applied Physics 60 (6) 1904 (1986)
https://doi.org/10.1063/1.337240

Photoelectron microscope for x-ray microscopy and microanalysis

F. Polack and S. Lowenthal
Review of Scientific Instruments 52 (2) 207 (1981)
https://doi.org/10.1063/1.1136565

Advances in Electronics and Electron Physics Volume 18

G. Möllenstedt and F. Lenz
Advances in Electronics and Electron Physics, Advances in Electronics and Electron Physics Volume 18 18 251 (1963)
https://doi.org/10.1016/S0065-2539(08)60836-7