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Article cité :

Electrical conduction and current noise mechanism in discontinuous metal films. I. Theoretical

M. Celasco, A. Masoero, P. Mazzetti and A. Stepanescu
Physical Review B 17 (6) 2553 (1978)
https://doi.org/10.1103/PhysRevB.17.2553

Excess noise in semiconducting devices due to fluctuations in their characteristics when signals are applied

C S Bull and S M Bozic
British Journal of Applied Physics 18 (7) 883 (1967)
https://doi.org/10.1088/0508-3443/18/7/302

Amorphous Oxide Layers on Gold and Nickel Films Observed by Electron Microscopy

M. L. Gimpl, A. D. McMaster and N. Fuschillo
Journal of Applied Physics 35 (12) 3572 (1964)
https://doi.org/10.1063/1.1713272

Electrical Conduction Mechanism in Ultrathin, Evaporated Metal Films

C. A. Neugebauer and M. B. Webb
Journal of Applied Physics 33 (1) 74 (1962)
https://doi.org/10.1063/1.1728531

Ergebnisse der Exakten Naturwissenschaften

H. Bittel
Ergebnisse der Exakten Naturwissenschaften, Ergebnisse der Exakten Naturwissenschaften 31 84 (1959)
https://doi.org/10.1007/BFb0110721

Current Noise and Nonlinearity in Pyrolytic Carbon Films

Thomas R. Williams and John B. Thomas
Review of Scientific Instruments 30 (7) 586 (1959)
https://doi.org/10.1063/1.1716689