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Article cité :

Dielectric mirror optimization based on the phase-compensation method

O del Barco, I J Sola, E Conejero Jarque and J M Bueno
Journal of Optics 21 (9) 095101 (2019)
https://doi.org/10.1088/2040-8986/ab386e

Phase properties of high-reflectance two-material periodic mirrors: application to oblique-incidence tunable filters

Frédéric Lemarquis
Applied Optics 52 (12) 2780 (2013)
https://doi.org/10.1364/AO.52.002780

DETERMINATION OF OPTICAL TRANSMISSION LOSS IN POLY (3-METHYL THIOPHENE) THIN FILM PLANAR WAVEGUIDE: EFFECT OF VAPOUR CHOPPING

Sandip V. Kamat, Sikandar H. Tamboli, Vijaya Puri, et al.
Progress In Electromagnetics Research M 18 197 (2011)
https://doi.org/10.2528/PIERM11032501

Properties of vacuum evaporated vapour chopped polyaniline thin film: effect of synthesis method

J B Yadav, S Jhadav, R K Puri and V Puri
Journal of Physics: Conference Series 114 012037 (2008)
https://doi.org/10.1088/1742-6596/114/1/012037

Studies on spin coated PANI/PMMA composite thin film: Effect of post-deposition heating

J.B. Yadav, R.B. Patil, R.K. Puri and Vijaya Puri
Applied Surface Science 255 (5) 2825 (2008)
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2008.08.015

Optical properties of the chopped and non-chopped vacuum evaporated polyaniline thin film

J.B. Yadav, R.B. Patil, R.K. Puri and Vijaya Puri
Journal of Non-Crystalline Solids 353 (52-54) 4691 (2007)
https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2007.06.060

Optical properties and adhesion of air oxidized vacuum evaporated bismuth thin films

R.B. Patil, J.B. Yadav, R.K. Puri and Vijaya Puri
Journal of Physics and Chemistry of Solids 68 (4) 665 (2007)
https://doi.org/10.1016/j.jpcs.2007.02.019

Oxidation temperature dependent optical properties of bismuth oxide thin films: Effect of vapour chopping and air exposure

R.B. Patil, R.K. Puri and Vijaya Puri
Applied Surface Science 253 (21) 8682 (2007)
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2007.04.041

Refractive index of colored films of molybdenum trioxide

C. Reyes-Betanzo, J. L. Herrera-Pérez, Gregorio H. Cocoletzi and O. Zelaya-Angel
Journal of Applied Physics 88 (1) 223 (2000)
https://doi.org/10.1063/1.373646

A High-precision Adaptation of the 'Turning-point' Method of Monitoring the Optical Thickness of Dielectric Layers Using Microprocessors

D.R. Gibson, P.H. Lissberger, I. Salter and D.G. Sparks
Optica Acta: International Journal of Optics 29 (2) 221 (1982)
https://doi.org/10.1080/713820821

Influence de la Dispersion des Indices sur le Contrôle des Couches Minces Diélectriques par la méthode des Rapports Stationnaires

M. Candille and J.M. Saurel
Optica Acta: International Journal of Optics 26 (12) 1459 (1979)
https://doi.org/10.1080/713819932

Réalisation de filtres multidiélectriques sur un substrat biréfringent, déformable et de faible épaisseur (mylar)

Jean-Marc Saurel and Marcel Candille
Thin Solid Films 16 (3) 313 (1973)
https://doi.org/10.1016/0040-6090(73)90085-0

Influence du Procédé de Contrôle Sur Les Tolérances de Réalisation des Filtres Interférentiels à Bande Etroite

E. Pelletier, R. Kowalczyk and A. Fornier
Optica Acta: International Journal of Optics 20 (7) 509 (1973)
https://doi.org/10.1080/713818800

Contr le et r alisation de rev tements multidi lectriques pr sentant des caract ristiques spectrales impos es

E Pelletier and P Giacomo
Nouvelle Revue d'Optique Appliquée 3 (3) 133 (1972)
https://doi.org/10.1088/0029-4780/3/3/304

Thin films of metal oxides on silicon by chemical vapor deposition with organometallic compounds. I

M. Balog, M. Schieber, S. Patai and M. Michman
Journal of Crystal Growth 17 298 (1972)
https://doi.org/10.1016/0022-0248(72)90260-6

Measurements of the longitudinal magnetooptic kerr reflection of a simple multilayer structure

J. Kranz and H. Stremme
IEEE Transactions on Magnetics 5 (3) 453 (1969)
https://doi.org/10.1109/TMAG.1969.1066508

Sources of error in the modulated wavelength optical thickness monitor for dielectric layers

P H Lissberger
Journal of Physics E: Scientific Instruments 2 (10) 875 (1969)
https://doi.org/10.1088/0022-3735/2/10/310