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Article cité :

Spectral dependence of optical constants of heavily doped Si in region of plasma resonance of charge carriers

D. I. Bilenko, V. P. Polyanskaya and V. D. Tsiporukha
Soviet Physics Journal 16 (2) 145 (1973)
https://doi.org/10.1007/BF00892662

Use of an Evaporated Dielectric Film for Determining the Optical Constants of a Metal I

Jean M. Bennett, E. J. Ashley and H. E. Bennett
Applied Optics 4 (8) 961 (1965)
https://doi.org/10.1364/AO.4.000961

Quelques Resultats Nouveaux dans la Mesure des Indices de Refraction (Liquides et Solides) dans l’Infrarouge

Josette Vincent-Geisse and Jean Lecomte
Applied Optics 1 (5) 575 (1962)
https://doi.org/10.1364/AO.1.000575