The mean free range of conduction electrons and photoelectrons. Measurement by means of the thin-layer method.
Le libre parcours moyen des électrons de conductibilité et des électrons photoélectriques mesuré au moyen de la méthode des couches minces
J. Phys. Radium, 17 3 (1956) 204-209
DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01956001703020400