J. Phys. Radium
Volume 19, Numéro 3, mars 1958
Page(s) 321 - 323
J. Phys. Radium 19, 321-323 (1958)
DOI: 10.1051/jphysrad:01958001903032100

Couches multiples réfléchissantes

J. Ring, R. Beer et V. Hewison

Department of Physics, University of Manchester, England

The high finesse theoretically available with multi-layer reflecting stacks cannot be obtained when optical flats are used as the support, because the surface irregularities limit the finesse to a much lower value ; similar effect limits the band width of evaporated interference filters. Two methods are proposed to overcome this difficulty : 1) use of thin mica sheets as spacing layers ; 2) use of reflectingstoks exhibiting a higher dispersion of phase change. Such a high dispersion may be obtained either in the way described by Baumeister, Stone and Jenkins, or by the use of multilayer stacks with a small difference in the index of refraction between high and low index layers. These stacks can also be used as narrow band reflecting filters.

Les finesses élevées qu'on peut théoriquement atteindre avec les couches multiples diélectriques ne sont pas utilisables avec les meilleurs plans optiques dont les défauts de planéité limitent la finesse à des valeurs, très inférieures ; des effets analogues limitent les bandes passantes des filtres interférentiels. On propose deux méthodes pour surmonter ces difficultés : 1) utilisation de minces lames de mica comme couches médianes ; 2) utilisation de miroirs présentant une grande dispersion du déphasage à la réflexion. Cette dispersion élevée peut être obtenue soit avec les couches décrites par Baumeister, Stone et Jenkins, soit avec des multi-couches à faible différence entre le haut indice et le bas indice. Ces multi-couches peuvent également être utilisées comme filtres à réflexion à bande étroite.

4279W - Optical coatings.

Key words
light interference -- optical films