Numéro
J. Phys. Radium
Volume 19, Numéro 3, mars 1958
Page(s) 379 - 382
DOI https://doi.org/10.1051/jphysrad:01958001903037900
J. Phys. Radium 19, 379-382 (1958)
DOI: 10.1051/jphysrad:01958001903037900

Mesures de précision avec le double étalon Fabry-Perot

D.A. Jackson

C. N. R. S., Bellevue


Abstract
The double Fabry-Perot etalon is used to increase the finesse (ratio of spectral range to instrumental width) of the fringe system, approximately in the ratio of the plate separations of the two etalons. Using the conventional photographic method of recording the fringe system, it should be possible to measure the position of a component to about 1/20 of its width, or about 1/4 000 order with a double etalon with a high ratio of the plate separations. When measurements are made to this accuracy, precautions must be taken to limit certain systematic errors. Four sources of error are discussed : 1) the effect of the non-linear dispersion ; 2) the error due to the misalignment in the vertical direction of the two etalons ; 3) the error due to the insufficient suppression of the subsidiary maxima, which can be serious with large ratios of the plate separations when the structure is complicated and has high intensity ratios ; 4) the systematic error, confined to atomic beam measurements, due to the Doppler effect, which occurs also with the simple etalon, but is of importance only with the double etalon, due to the greater ratio of spectral range to line width.


Résumé
L'étalon double Fabry-Perot est utilisé pour multiplier la finesse (rapport de l'intervalle spectral libre à la largeur instrumentale) du système de franges, par un facteur approximativement égal au rapport des séparations des lames des deux étalons. Avec la méthode photographique habituelle d'enregistrement du système de franges, il devrait être possible de mesurer la position d'une composante à environ 1/20 de sa largeur, soit environ 1/4000 d'ordre avec un double étalon dont le rapport des épaisseurs est grand. Pour faire des mesures avec cette précision, il faut prendre des précautions pour limiter certaines erreurs systématiques. Quatre causes d'erreur sont discutées : 1) l'effet de la non-linéarité de la dispersion ; 2) l'erreur due au défaut d'alignement dans la direction verticale, des deux étalons ; 3) l'erreur provenant de la suppression insuffisante des maxima secondaires, qui peut être importante avec de grands rapports d'épaisseurs, si la structure est compliquée et comporte des composantes d'intensités très différentes ; 4) l'erreur systématique, qui ne se produit qu'avec les jets atomiques, due à l'effet Doppler, erreur qui se produit aussi avec le simple étalon, mais qui n'est importante qu'avec le double étalon en raison de la valeur plus élevée du rapport de l'intervalle spectral libre à la largeur de raie.

PACS
0760 - Optical instruments and equipment.

Key words
light interferometers