J. Phys. Radium 21, 157-164 (1960)
DOI: 10.1051/jphysrad:01960002103015700

Remarques sur certaines propriétés optiques et sur la structure des couches minces d'argent

J.P. David

Faculté des Sciences d'Alger

Abstract
In this paper is described an apparatus permitting measurement, for a thin metallic film, simultaneously, and in the vacuum used for the evaporation, reflectances R and R', transmittance C and phase change on reflection φr. Some experimental results dealing with the influence of the method of evaporation are given. Some theoretical models of film structures proposed by different authors are examined.

Résumé
Dans cet article est décrit un dispositif expérimental permettant l'étude simultanée et sous le vide même de la préparation des facteurs de réflexion R et R', du facteur de transmission L et de la différence de phase à la réflexion φ' pour une couche mince donnée. Quelques. résultats expérimentaux montrant l'influence du mode de préparation des couches sont exposés On examine enfin un certain nombre de modèles théoriques structuraux proposés par divers auteurs pour représenter une couche mince.

PACS
78 - Optical properties, condensed-matter spectroscopy and other interactions of radiation and particles with condensed matter.
68 - Surfaces and interfaces; thin films and low-dimensional systems (structure and nonelectronic properties).

Key words
films -- optical instruments -- reflectivity -- silver -- light transmission