Numéro |
J. Phys. Radium
Volume 19, Numéro 3, mars 1958
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Page(s) | 307 - 311 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphysrad:01958001903030700 |
DOI: 10.1051/jphysrad:01958001903030700
Propriétés chromatiques des couches réfléchissantes multi-diélectriques
P. GiacomoC. N. R. S., Bellevue
Abstract
Variations, versus wave-length, of some qualities of multi-layer coatings, used as Fabry-Perot mirrors, are studied. " Finesse " F and " Transparency " T measurements show that the absorption A of a " classical " coating is roughly independant of the number of layers and wave-length. T and F are bound by the simple relation (1- T)/F ≈ 2A/3, allowing to characterize the general properties of such multilayers by their absorption A. If the layers are not uniform in thickness, there is an apparent lack of planeness, tightly bound to dψ/dσ, derivative of the phase change at reflexion ψ, versus wave-number σ. This effect may increase the apparent roughness and lack of planeness of the surface, when large values of |dψ/dσ| occur.
Résumé
On étudie, en fonction de la longueur d'onde, les variations de certaines qualités des couches multiples diélectriques utilisées comme miroirs dans l'interféromètre de Fabry-Perot. Les mesures de « finesse » F et de « transparence » T montrent que l'absorption A des multi-couches « classiques » est sensiblement indépendante du nombre de couches et de la longueur d'onde. T et F sont liés par la relation simple (1 - T) /F ≈ 2A /3, ce qui permet de caractériser globalement ce types de couches par leur absorption A. Si les couches n'ont pas une épaisseur bien uniforme, les défauts de planéité apparents qui en résultent dépendent étroitement de dψ/dσ, dérivée du déphasage ψ à la réflexion par rapport au nombre d'ondes σ. Cet effet est susceptible d'entraîner des défauts de surface apparents importants lorsque |dψ/dσ| devient très grand.
4279W - Optical coatings.
0760 - Optical instruments and equipment.
Key words
light interferometers -- light interferometry -- optical films