Issue
J. Phys. Radium
Volume 5, Number 8, août 1944
Page(s) 173 - 184
DOI https://doi.org/10.1051/jphysrad:0194400508017300
J. Phys. Radium 5, 173-184 (1944)
DOI: 10.1051/jphysrad:0194400508017300

Nouvelle méthode de mesure des indices de réfraction et d'absorption électriques pour la gamme des ondes décimétriques et métriques

Jean Benoit

Laboratoire d'Enseignement de Physique de la Sorbonne


Résumé
1re Partie : Exposé du principe mis en oeuvre; rappel des procédés de mesure de la longueur d'onde et de la surtension; développement de la base théorique de la méthode. 2e Partie : Application des résultats précédents au problème de la mesure de n et χ proprement dits. On indique la façon de construire divers abaques ainsi que des modes d'exploitation très simples de ceux-ci. Description de l'appareillage auxiliaire nécessaire aux mesures. 3e Partie : Détails de construction de la ligne coaxiale de mesure et de ses accessoires; réglages et contrôle expérimental. Résultats expérimentaux relatifs à des diélectriques solides. Complément théorique pour la mesure sur des diélectriques liquides; résultats expérimentaux et discussion.

PACS
7820 - Optical properties of bulk materials and thin films.

Key words
Decimeter wave radiation -- Refractive index -- Measurement method -- Dielectric materials -- Optical properties