| Issue |
J. Phys. Radium
Volume 22, Number 4, avril 1961
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| Page(s) | 247 - 248 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphysrad:01961002204024700 | |
J. Phys. Radium 22, 247-248 (1961)
DOI: 10.1051/jphysrad:01961002204024700
Laboratoire de Physique P. C. B., Faculté des Sciences, Alger
PACS
7361 - Electrical properties of specific thin films.
Key words
electrical conductivity -- films -- Hall effect -- silicon -- elemental semiconductors
DOI: 10.1051/jphysrad:01961002204024700
Dispositif de détermination sous vide de la conductibilité électrique et de la constante de Hall des lames minces métalliques et semi-conductrices
S. MartinuzziLaboratoire de Physique P. C. B., Faculté des Sciences, Alger
Without abstract
PACS
7361 - Electrical properties of specific thin films.
Key words
electrical conductivity -- films -- Hall effect -- silicon -- elemental semiconductors
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