Numéro |
J. Phys. Radium
Volume 1, Numéro 8, août 1930
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Page(s) | 261 - 270 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphysrad:0193000108026100 |
DOI: 10.1051/jphysrad:0193000108026100
Sur une méthode de mesure du pouvoir réflecteur pour les rayons X de grande longueur d'onde
A. Valouch Résumé
L'auteur décrit une méthode pour mesurer le pouvoir réflecteur de différents miroirs pour les rayons X de grande longueur d'onde dans le domaine de la réflexion totale. Les rayons émis par un tube spécial, sont réfléchis sur un miroir plan de la substance étudiée, et on mesure l'in tensité des rayonnements incident et réfléchi au moyen d'une chambre d'ionisation spécialement construite. On peut ainsi obtenir des courbes représentant le pouvoir réflecteur en fonction de l'angle d'incidence. La théorie classique, qui semble applicable dans ce cas, donne une expression du pouvoir réflecteur en fonction de l'angle limite dépendant de deux paramètres, dont un est lié à l'indice de réfraction, et l'autre au coefficient d'absorption. Par comparaison des résultats expérimentaux avec cette formule, on peut obtenir les valeurs de l'indice de réfraction et du coefficient d'absorption. Les mesures ont été faites pour le verre (flint) et le duralumin avec les rayons K du carbone (45 Å). Les résultats obtenus sont en bon accord avec la théorie. Enfin, l'auteur montre la possibilité de perfectionner la méthode.
6110K - X-ray reflectometry (surfaces, interfaces, films).
Key words
X-ray reflection -- Measuring methods -- Instrumentation -- Total reflection