Numéro |
J. Phys. Radium
Volume 4, Numéro 1, janvier 1943
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Page(s) | 1 - 12 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/jphysrad:01943004010100 |
J. Phys. Radium 4, 1-12 (1943)
DOI: 10.1051/jphysrad:01943004010100
Laboratoire de Minéralogie de la Faculté des Sciences de Paris
6110K - X-ray reflectometry (surfaces, interfaces, films).
Key words
Structural analysis -- X-ray analysis -- Thermal noise -- Crystalline structure -- X-ray scattering
DOI: 10.1051/jphysrad:01943004010100
Diffusion cristalline des rayons X par l'agitation thermique des atomes
Jean LavalLaboratoire de Minéralogie de la Faculté des Sciences de Paris
Résumé
Lorsque les conditions de la réflexion sélective ne sont plus remplies, un cristal diffuse encore notablement les rayons X. Cette diffusion varie avec la température : elle est due à l'agitation thermique des atomes. On la représente avec simplicité dans le réseau polaire par des surfaces d'isodiffusion. Les rayons X se réfléchissent sélectivement, en changeant de fréquence, sur les plans d'onde élastique. Aussi, le pouvoir diffusant dépend seulement des ondes élastiques qui se prêtent à la réflexion sélective. Elles sont en petit nombre : 6 g s'il y a g atomes dans la maille élémentaire. Le pouvoir diffusant permet d'atteindre les vitesses des ondes acoustiques et les coefficients d'élasticité.
6110K - X-ray reflectometry (surfaces, interfaces, films).
Key words
Structural analysis -- X-ray analysis -- Thermal noise -- Crystalline structure -- X-ray scattering