| Numéro |
J. Phys. Radium
Volume 5, Numéro 9, septembre 1944
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| Page(s) | 203 - 216 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphysrad:0194400509020300 | |
J. Phys. Radium 5, 203-216 (1944)
DOI: 10.1051/jphysrad:0194400509020300
Laboratoire d'Enseignement de Physique de la Sorbonne
PACS
7820 - Optical properties of bulk materials and thin films.
Key words
Decimeter wave radiation -- Measurement method -- Refractive index -- Dielectric materials -- Optical properties
DOI: 10.1051/jphysrad:0194400509020300
Nouvelle méthode de mesure des indices de réfraction et d'absorption électriques pour la gamme des ondes décimétriques et métriques
Jean BenoitLaboratoire d'Enseignement de Physique de la Sorbonne
Without abstract
PACS
7820 - Optical properties of bulk materials and thin films.
Key words
Decimeter wave radiation -- Measurement method -- Refractive index -- Dielectric materials -- Optical properties
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