| Numéro |
J. Phys. Radium
Volume 11, Numéro 8-9, août-septembre 1950
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| Page(s) | 524 - 528 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001108-9052400 | |
J. Phys. Radium 11, 524-528 (1950)
DOI: 10.1051/jphysrad:01950001108-9052400
1 Attaché de Recherches au Collège de France
2 Ingénieur au Commissariat à l'Energie atomique
3 Stagiaire de Recherches au Collège de France
4175 - Charged-particle beams.
2925N - Ion sources: positive and negative.
Key words
ion beams -- particle beam focusing -- ion sources
DOI: 10.1051/jphysrad:01950001108-9052400
Étude à la cuve rhéographique de sources d'ions utilisées en spectrométrie de masse. Détermination des trajectoires
Raymond Moch1, Etienne Roth2 et Jean Salmon31 Attaché de Recherches au Collège de France
2 Ingénieur au Commissariat à l'Energie atomique
3 Stagiaire de Recherches au Collège de France
Résumé
L'optique de deux sources d'ions dues à A. O. Nier a été étudiée. Sous des conditions d'approximation qui sont rappelées, le tracé à la cuve rhéographique des équipotentielles dans les modèles permet le calcul des trajectoires d'ions dans la source. On a ainsi, comparé les propriétés de focalisation, d'ouverture du faisceau émergeant, dans les deux sources. Le modèle d'une troisième source, conçu d'après les résultats précédents, est également décrit et discuté.
4175 - Charged-particle beams.
2925N - Ion sources: positive and negative.
Key words
ion beams -- particle beam focusing -- ion sources