| Numéro |
J. Phys. Radium
Volume 16, Numéro 4, avril 1955
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| Page(s) | 304 - 317 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphysrad:01955001604030400 | |
J. Phys. Radium 16, 304-317 (1955)
DOI: 10.1051/jphysrad:01955001604030400
1 Maître de Conférences à la Faculté des Sciences de Toulouse
2 Ingénieur de recherches à l'O. N. E. R. A.
8280D - Analytical methods involving electronic spectroscopy.
Key words
X ray chemical analysis
DOI: 10.1051/jphysrad:01955001604030400
Sur les bases physiques de l'analyse ponctuelle par spectrographie X
Raymond Castaing1 et Jacques Descamps21 Maître de Conférences à la Faculté des Sciences de Toulouse
2 Ingénieur de recherches à l'O. N. E. R. A.
Résumé
Afin d'établir sur des bases physiques les diverses opérations intervenant dans une analyse ponctuelle par spectrographie X, des mesures ont été effectuées pour déterminer expérimentalement la répartition en profondeur de l'émission caractéristique d'une anticathode, ainsi que l'importance relative de l'émission secondaire de fluorescence excitée par le spectre continu.
8280D - Analytical methods involving electronic spectroscopy.
Key words
X ray chemical analysis