| Numéro |
J. Phys. Radium
Volume 11, Numéro 7, juillet 1950
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| Page(s) | 436 - 437 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107043600 | |
J. Phys. Radium 11, 436-437 (1950)
DOI: 10.1051/jphysrad:01950001107043600
4225H - Interference.
0760L - Interferometers.
0760H - Refractometers and reflectometers.
Key words
light interference -- light interferometry -- refractive index measurement -- solid structure
DOI: 10.1051/jphysrad:01950001107043600
III. A further application of localized white-light fringes of superposition
S. Tolansky Résumé
Les franges de superposition localisées qui apparaissent en lumière blanche dans un dispositif à franges de Fizeau sont utilisées pour mettre en évidence de faibles inclusions et changements d'indices dans le mica. On coupe en deux une feuille de mica argentée sur les deux faces et l'on utilise les deux morceaux pour produire un système de franges. Une différence de marche de 2,5 A seulement pent être détectée à l'oeil. Cette technique se recommande par sa simplicité.
4225H - Interference.
0760L - Interferometers.
0760H - Refractometers and reflectometers.
Key words
light interference -- light interferometry -- refractive index measurement -- solid structure