Optical properties of thin platesLes propriétés optiques des lames minces p. 305 P. Rouard DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107030500 RésuméPDF (246.7 KB)
The generalized theory of thin films.La théorie générale des couches minces p. 307 Florin Abelès DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107030700 RésuméPDF (584.0 KB)Références
The determination of the index [refractive] and of the thickness of thin transparent films.La détermination de l'indice et de l'épaisseur des couches minces transparentes p. 310 F. Abelès DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107031000 RésuméPDF (869.5 KB)Références
The optical admittance of homogeneous and heterogeneous films.L'admittance optique des couches homogènes et hétérogènes p. 315 B.S. Blaisse DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107031500 RésuméPDF (1.021 MB)Références
Graphical study of the theoretical optical properties of thin films.Étude graphique des propriétés optiques théoriques des lames minces p. 321 P. Cotton DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107032100 RésuméPDF (777.3 KB)Références
Application to thin films of the theory of the reflection interference etalon.Application aux couches minces de la théorie de l'étalon interférentiel par réflexion p. 327 Ch. Dufour DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107032700 RésuméPDF (724.2 KB)
Graphical study of the optical properties of thin metallic films.Étude graphique des propriétés optiques des lames métalliques minces p. 332 D. Malé DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107033200 RésuméPDF (1.330 MB)Références
Transmission and reflection theory in systems of multiple thin films.Théorie de la transmission et de la réflexion dans les systèmes de couches minces multiples p. 337 F. Scandone DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107033700 RésuméPDF (623.2 KB)Références
The reflection of light on glass supporting multiple thin films.Sur la réflexion de la lumière sur des verres supportant des couches minces multiples p. 342 Antonin Vasicek DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107034200 RésuméPDF (489.2 KB)Références
Polarimetric method of studying the heterogeneity of a thin film supported on glass.Méthode polarimétrique pour l'étude de l'hétérogénéité d'une couche mince sur support de verre p. 346 Antonin Vasicek DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107034600 RésuméPDF (462.6 KB)Références
Cathodic sputtering apparatus for the production of deposits whose density is controlled during formation.Un appareil de pulvérisation cathodique permettant d'obtenir des couches dont la densité est contrôlée pendant la formation p. 351 A. Andant DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107035100 RésuméPDF (256.6 KB)
Apparatus for the preparation by vacuum evaporation of variable-colour interference filters.Mécanisme pour la préparation par évaporation dans le vide de filtres interférentiels à couleur variable p. 353 Ch. Dufour DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107035300 RésuméPDF (403.8 KB)Références
Some factors influencing the adhesion of films produced by vacuum evaporation p. 355 O.S. Heavens DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107035500 RésuméPDF (1.241 MB)
Preparation of thin films whose thickness varies in one direction, according to some given law.Préparation de lames minces dont l'épaisseur varie, dans une direction, suivant une loi donnée quelconque p. 361 Pierre Jacquinot DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107036100 RésuméPDF (382.9 KB)Références
Vacuum evaporation apparatus for the metallization of interferometer films.Appareil de vaporisation dans le vide pour la métallisation de lames d'interféromètre p. 363 J. Roig et Descamps DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107036300 RésuméPDF (534.1 KB)
Polarimetric method of thin film study by variation of the refractive index in the region of incidence (immersion).Méthode polarimétrique d'étude des couches minces par variation de l'indice du milieu d'incidence (immersion) p. 366 F. Suhner DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107036600 RésuméPDF (1.295 MB)
Interferometric evaluation of thicknesses of thin films p. 373 S. Tolansky DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107037300 RésuméPDF (339.2 KB)
Optical properties of thin silicon films.Propriétés optiques des lames minces de silicium p. 375 P. Cotton DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107037500 RésuméPDF (810.8 KB)Références
The protection of optical glass and aluminium-surfaced mirrors.Protection des verres d'optique et miroirs aluminiés p. 380 Flamant DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107038000 RésuméPDF (1.000 MB)
Evolution of certain optical properties of very thin metallic films.Évolution de certaines propriétés optiques des lames métalliques très minces p. 385 M. Perrot DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107038500 RésuméPDF (1001 KB)Références
The optical properties of thin platinum films and their comparison with those of other metals.Sur les propriétés optiques des lames minces de platine et leur comparaison avec celles d'autres métaux p. 390 P. Rouard DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107039000 RésuméPDF (704.2 KB)Références
On the structure and properties of some metal and metal oxide films p. 394 Georg Hass et Noel W. Scott DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107039400 RésuméPDF (1.857 MB)Références
Polarimetric applications of thin films.Les applications des couches minces en polarimétrie p. 403 F. Abelès DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107040300 RésuméPDF (529.9 KB)Références
Thin films in the infrared.Les couches minces dans l'infrarouge p. 407 Bruce H. Billings DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107040700 RésuméPDF (1.022 MB)Références
Theoretical study of five-fold films of the type Ag-F2Mg-Ag-F2Mg-Ag.Étude théorique de couches quintuples du type Ag—F 2Mg—Ag—F2Mg—Ag p. 413 Ch. Dufour DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107041300 RésuméPDF (693.1 KB)Références
The construction of interference filters for the transmission of specified wavelengths p. 418 K.M. Greenland et C. Billington DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107041800 RésuméPDF (662.7 KB)Références
The reflectivity of thin silver films and the performance of the Fabry-Perot interferometer p. 422 H. Kuhn DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107042200 RésuméPDF (499.1 KB)Références
The use of two Fabry-Perot interferometers in series for the detection of Faint satellites p. 425 H. Kuhn DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107042500 RésuméPDF (289.5 KB)Références
Use in interferometry of combinations of thin films.Utilisation des combinaisons de lames minces en interférométrie p. 427 Pierre Jacquinot et Charles Dufour DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107042700 RésuméPDF (905.9 KB)Références
Some further applications of multiple. Beam interferometry I. interferometric method for measuring differential polarisation phase change at metallic reflection p. 432 S. Tolansky DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107043200 RésuméPDF (507.3 KB)
II. New multiple-beam localised fringes formed by strongly curved silvered thin plates p. 434 S. Tolansky DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107043400 RésuméPDF (333.6 KB)
III. A further application of localized white-light fringes of superposition p. 436 S. Tolansky DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107043600 RésuméPDF (626.9 KB)
IV. The oscillations of quartz crystals as revealed by multiple-beam interferometry p. 438 S. Tolansky DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107043800 RésuméPDF (558.0 KB)
Practical applications of high and low-reflecting films on glass p. 441 John Strong DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107044100 RésuméPDF (1.222 MB)Références
Some current developments in multilayer optical films p. 444 A.F. Turner DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107044400 RésuméPDF (2.398 MB)Références
Optical properties of thins solid films [survey of bibliography].Propriétés optiques des lames minces solides p. 461 P. Cotton et P. Rouard DOI: https://doi.org/10.1051/jphysrad:01950001107046100 RésuméPDF (3.697 MB)Références
